CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的
主要用途有:
1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度;
2利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;
3利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;
4利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;
5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;
6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
7利 用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。
水平线性又称时基线性，或扫描线性。是指输入到超声检测仪中的不同回波的时间间隔与超声检测仪显示屏时基线上回波的间隔成正比关系的程度。水平线性影响缺陷位置确定的准确度。水平线性的测试可利用任何表面光滑、厚度适当，并具有两个相互平行的大平面的试块，用纵波直探头获得多次回波，并将规定次数的两个回波调整到与两端的规定刻度线对齐，之后，观察其他的反射回波位置与
水平刻度线相重合的情况，其测试步骤如下：
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